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ASTM C1842-24
通過傅立葉變換紅外(FTIR)光譜分析六氟化鈾中硼和硅的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

Standard Test Method for The Analysis of Boron and Silicon in Uranium Hexfluoride via Fourier-Transform Infrared (FTIR) Spectroscopy


標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
ASTM C1842-24
發(fā)布
2024年
總頁數(shù)
7頁
發(fā)布單位
美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)
當(dāng)前最新
ASTM C1842-24
 
 
引用標(biāo)準(zhǔn)
ANSI N14.1 ASTM C1052 ASTM C1703 ASTM C1771 ASTM C761 ASTM C859 ISO 7195
適用范圍
本測(cè)試方法適用于測(cè)定鈾六氟化物中的硼和硅雜質(zhì)(以BF3和SiF4形式存在)。本測(cè)試方法是C761和C1771測(cè)試方法的替代方法。 本標(biāo)準(zhǔn)中給出的SI單位值應(yīng)被視為標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)不包含其他單位的測(cè)量。 本標(biāo)準(zhǔn)無意解決所有與使用有關(guān)的安全問題(如有),若有,則屬于用戶的責(zé)任,需在使用前確定適當(dāng)?shù)慕】?、安全和環(huán)境實(shí)踐,并確定監(jiān)管限制的適用性。 本國際標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)世界貿(mào)易組織技術(shù)性貿(mào)易壁壘(TBT)委員會(huì)發(fā)布的《制定國際標(biāo)準(zhǔn)、指南和建議的決策》中所確立的國際公認(rèn)標(biāo)準(zhǔn)化原則開發(fā)的。
術(shù)語描述
檢測(cè)限
detection limit
根據(jù)C859的定義,通過這些方法可以實(shí)現(xiàn)的低濃度水平,以可獲得的最小吸光度在給定壓力下產(chǎn)生有意義的結(jié)果。
FTIR
Fourier-transform infrared spectroscopy
傅里葉變換紅外光譜法。

ASTM C1842-24 中提到的儀器設(shè)備

傅里葉變換紅外分光光度計(jì)

分辨率62 cm-1或更高
用于分析鈾六氟化物中硼和硅的濃度。
真空系統(tǒng)

惰性材料制造(如鎳、鎳銅合金等)
用于處理氟化氣體。

ASTM C1842-24相似標(biāo)準(zhǔn)


誰引用了ASTM C1842-24 更多引用





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