電致發(fā)光材料（Electroluminescent Materials）被廣泛應(yīng)用于各種顯示、照明等領(lǐng)域。在電致發(fā)光材料性能表征的過(guò)程中，我們通常將待測(cè)樣品加上恒定的電壓，來(lái)測(cè)試器件的電流、亮度等參數(shù)。這些參數(shù)很多都受器件電阻的影響，因此準(zhǔn)確的獲得器件電阻就非常的重要。
在器件發(fā)光器件的測(cè)試過(guò)程中，分別有兩點(diǎn)法和四點(diǎn)法兩種測(cè)試方法，今天我們就這兩種方法進(jìn)行一個(gè)簡(jiǎn)單的介紹并驗(yàn)證了兩者的區(qū)別。 兩點(diǎn)法是我們測(cè)量電阻時(shí)最常使用的一種方法，其測(cè)量原理如下圖所示。 將兩根測(cè)試導(dǎo)線分別連接于待測(cè)物R的兩端，通過(guò)測(cè)量?jī)x器上的電壓表和電流表讀取電流I和電壓U，從而得到待測(cè)物的電阻R=U/I。 四點(diǎn)法全稱為開(kāi)爾文四線檢測(cè)(KelvinFour-terminal Sensing)，其原理可以簡(jiǎn)化為下圖。 為實(shí)際了解兩點(diǎn)法和四點(diǎn)法的差別，我們將四根2m長(zhǎng)的導(dǎo)線分別以兩點(diǎn)法和四點(diǎn)法，在恒壓模式通過(guò)電壓掃描的方式，實(shí)際測(cè)試了同一個(gè)發(fā)光LED的電流和亮度。 在圖中，隨著電壓的不斷增大，電流和亮度均逐漸開(kāi)始增大，在電壓增大的過(guò)程中，可以明顯觀察到兩點(diǎn)法和四點(diǎn)法所測(cè)得結(jié)果的偏差，四點(diǎn)法的電流和亮度比兩點(diǎn)法的高。這是因?yàn)樵谏龎旱倪^(guò)程中，LED的伏安特性發(fā)生了改變，電阻逐漸減小，因此導(dǎo)線電阻所產(chǎn)生的壓降比例增大，使兩點(diǎn)法和四點(diǎn)法測(cè)量的最終結(jié)果產(chǎn)生不同。 上圖為在不同電壓下兩點(diǎn)法和四點(diǎn)法偏差比例，我們可以直觀看到電流和亮度的差異比例在不斷增大，因此四點(diǎn)法在恒壓測(cè)試中可明顯獲得更為準(zhǔn)確的電流和亮度的結(jié)果。 但是在實(shí)際的測(cè)量中，測(cè)試結(jié)果往往受到多種因素的影響。因此當(dāng)發(fā)光材料在工作電壓下只有比較小的電阻時(shí)候，選用四點(diǎn)法便可以消除導(dǎo)線電阻、ITO膜的電阻等影響，得到一個(gè)更加準(zhǔn)確的結(jié)果。 
兩點(diǎn)法和四點(diǎn)法的區(qū)別
測(cè)試結(jié)果
