請參閱實踐 E 261，了解使用閾值探測器 (1-29) 確定衰變速率、反應(yīng)速率和中子注量速率的一般討論。通過該測試方法獲得的結(jié)果的使用和應(yīng)用，請參閱實踐 E 1006、實踐 E 185 和指南 E 1018。(34-36) 93mNb 的半衰期為 5730 ±" >

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ASTM E1297-08
通過鈮放射活性測定快中子反應(yīng)速率的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法

Standard Test Method for Measuring Fast-Neutron Reaction Rates by Radioactivation of Niobium


哪些標(biāo)準(zhǔn)引用了ASTM E1297-08

 

ASTM E720-23 電子輻射硬度試驗中中子光譜測定用中子傳感器的選擇和使用標(biāo)準(zhǔn)指南ASTM E721-22 電子設(shè)備輻射硬度試驗用中子傳感器中子能譜測定的標(biāo)準(zhǔn)指南ASTM E2005-21 標(biāo)準(zhǔn)和參考中子場中反應(yīng)堆劑量法的基準(zhǔn)測試標(biāo)準(zhǔn)指南ASTM E1854-19 確保電子零件中子誘發(fā)位移損傷試驗一致性的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程ISO 19226:2017 核能. 反應(yīng)堆容器和內(nèi)部構(gòu)件中子注量和每原子位移（DPA）的測定ASTM E720-16 選擇和使用中子傳感器用于確定電子輻射硬度測試中使用的中子光譜的標(biāo)準(zhǔn)指南ASTM E721-16 用于確定電子輻射硬度測試中子傳感器中子能譜的標(biāo)準(zhǔn)指南ASTM E1854-13 確保電子部件的中子引起的位移損傷試驗一致性的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程ASTM E720-11 電子輻射強(qiáng)度測試中測定中子光譜的中子傳感器的選擇和應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)指南ASTM E2005-10(2015) 標(biāo)準(zhǔn)和參考中子場中反應(yīng)堆劑量基準(zhǔn)測試的標(biāo)準(zhǔn)指南ASTM E720-08 電子輻射強(qiáng)度試驗中中子波譜測定用中子探測器的選擇和使用標(biāo)準(zhǔn)指南ASTM E721-07 電子輻射強(qiáng)度試驗用中子探測器測定中子能譜的標(biāo)準(zhǔn)指南ASTM E1383-94a ASTM E1383-94a
標(biāo)準(zhǔn)號
ASTM E1297-08
發(fā)布
2008年
發(fā)布單位
美國材料與試驗協(xié)會
替代標(biāo)準(zhǔn)
ASTM E1297-08(2013)
當(dāng)前最新
ASTM E1297-18
 
 

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