国产又粗又长又大无遮挡,丰满人妻av一区二区三区,国产精品全国免费观看高,亚洲欧美国产日韩精品在线

DIN 66165-2:2016-08
粒度分析 篩分分析 第2部分:程序

Particle size analysis - Sieving analysis - Part 2: Procedure


標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
DIN 66165-2:2016-08
發(fā)布
2016年
總頁(yè)數(shù)
9頁(yè)
發(fā)布單位
德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)
當(dāng)前最新
DIN 66165-2:2016-08
 
 
引用標(biāo)準(zhǔn)
DIN 66111 DIN 66165-1 DIN ISO 3310-1 DIN ISO 3310-2 DIN ISO 3310-3 DIN ISO 9276-1
 
 
本體
粒度分布
適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于測(cè)定分散材料粒度分布的試驗(yàn)篩分方法。適用于粒度高達(dá)約125毫米的顆粒。
術(shù)語(yǔ)描述
篩分持續(xù)時(shí)間
Sieving duration
篩分過(guò)程所需的時(shí)間,根據(jù)材料和篩孔大小確定。
篩孔尺寸
Sieve aperture size
篩網(wǎng)上孔的大小,用于分離顆粒。
干篩分
Dry sieving
不使用液體進(jìn)行的篩分過(guò)程。
濕篩分
Wet sieving
使用液體進(jìn)行的篩分過(guò)程。
篩分機(jī)
Sieving machine
用于機(jī)械化篩分過(guò)程的設(shè)備。

DIN 66165-2:2016-08 中提到的儀器設(shè)備

天平

容量匹配,誤差限G=0.001
用于測(cè)定裝料和篩上物的質(zhì)量。

電子天平 XPR205DUE/AC

梅特勒托利多 XPR205DUE/AC

賽多利斯Cubis 系列電子天平

賽多利斯 賽多利斯Cubis 系列

梅特勒 新經(jīng)典系列ME天平

梅特勒托利多 ME/54/104/204

賽多利斯 Quintix系列電子天平

賽多利斯 Quintix系列

試驗(yàn)篩

符合DIN ISO 3310-1、DIN ISO 3310-2或DIN ISO 3310-3
用于篩分過(guò)程的篩網(wǎng),根據(jù)材料和篩孔大小選擇。

專題


DIN 66165-2:2016-08相似標(biāo)準(zhǔn)





Copyright ?2007-2025 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號(hào) 京公網(wǎng)安備1101085018 電信與信息服務(wù)業(yè)務(wù)經(jīng)營(yíng)許可證:京ICP證110310號(hào)
頁(yè)面更新時(shí)間: 2025-06-20 13:55