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DIN ISO 16242:2020
表面化學分析 俄歇電子能譜(AES)中的數據記錄和報告(ISO 16242:2011);英文文本

Surface chemical analysis - Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES) (ISO 16242:2011); Text in English


標準號
DIN ISO 16242:2020
發(fā)布
2020年
總頁數
20頁
發(fā)布單位
德國標準化學會
替代標準
DIN ISO 16242:2020-05
當前最新
DIN ISO 16242:2020-05
 
 
引用標準
ISO 17973 ISO 17974 ISO 18115-1
 
 
本體
俄歇電子能譜
適用范圍
本標準規(guī)定了使用俄歇電子能譜(AES)分析測試樣品后,分析師應報告的最低信息水平。它包括要記錄在分析記錄上或其中的信息。
術語描述
原位
in situ
在分析系統(tǒng)內部。
非原位
ex situ
在分析系統(tǒng)外部。
俄歇線
Auger line
由于K殼層中的電子空穴,電子從L殼層轉移到K殼層空位,同時從L殼層發(fā)射俄歇電子而產生的俄歇線的簡寫符號。
KVV
KVV
由于K殼層中的電子空穴,電子從價帶(“V”)轉移到K殼層空位,同時從價帶發(fā)射俄歇電子而產生的俄歇線的簡寫符號。
LMM
LMM
類似符號用于L、M和進一步的俄歇系列。

DIN ISO 16242:2020 中提到的儀器設備

俄歇電子能譜儀

未指定
用于表面化學分析的設備。

專題


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