本規(guī)程適用于通過 27Al(n,α)24Na 活化反應(yīng)測量≥6.5MeV快中子通量,輻照時間建議不超過48小時。
類別 | 規(guī)格要求 |
---|---|
γ能譜儀 | 高純鍺探測器或NaI(Tl)探測器,分辨率≤2keV@1.33MeV |
分析天平 | 精度±0.1mg |
鋁樣品 | 純度>99.99%,23Na含量<1ppm |
封裝材料 | 不銹鋼/石英膠囊,壁厚≤0.5mm |
Tirr = -ln(1-Atarget/Asat)/λ
參數(shù) | 計算公式 | 單位 |
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飽和活度 | As=A/[1-exp(-λtirr)]·exp(-λtwait) | Bq |
反應(yīng)率 | R=As/NAl | s-1·atom-1 |
中子注量率 | Φ=R/σeff | cm-2·s-1 |
注:σeff采用IRDFF-II庫4.25-20MeV能區(qū)加權(quán)截面值
操作24Na時需佩戴 鉛防護屏 ,表面污染檢測限值<0.4Bq/cm2
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1.1 本測試方法涵蓋了通過活化反應(yīng) 27 Al(n,α)24 Na 測量反應(yīng)速率的程序。 1.2 這種活化反應(yīng)可用于測量能量高于約 6.5 MeV 的中子,照射時間長達約兩天(對于較長的照射,或當照射期間反應(yīng)堆功率有顯著變化時,請參見實踐 E261)。 1.3 通過適當?shù)募夹g(shù),可以確定高于 106 cm?2 ·s?1 的裂變中子注量率。 1.4 其他快中子...
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