ISO 23833:2006
微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯

Microbeam analysis - Electron probe microanalysis (EPMA) - Vocabulary

作廢

標(biāo)準(zhǔn)號

ISO 23833:2006

發(fā)布

2006年

總頁數(shù)

60頁

中文版

GB/T 21636-2008 (等同采用的中文版本)

發(fā)布單位

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織

替代標(biāo)準(zhǔn)

ISO 23833:2013

當(dāng)前最新

ISO 23833:2013

 

 

適用范圍

本國際標(biāo)準(zhǔn)定義了電子探針微量分析 (EPMA) 實踐中使用的術(shù)語。 它涵蓋了一般概念和特定概念，并根據(jù)其層次結(jié)構(gòu)以系統(tǒng)順序進行分類。 本國際標(biāo)準(zhǔn)適用于與 EPMA 實踐相關(guān)的所有標(biāo)準(zhǔn)化文件。 此外，本國際標(biāo)準(zhǔn)的某些部分適用于與相關(guān)領(lǐng)域（例如SEM、AEM、EDX）實踐相關(guān)的文件，以定義這些領(lǐng)域通用的術(shù)語。

專題

ISO 23833:2006相似標(biāo)準(zhǔn)

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