為了控制材料品質及其物理、化學特性,在材料科學與工程的許多領域都需要描述顆粒的三維特征,因此,材料三維(3D)顯微組織形態(tài)的實驗觀測和科學定量表征是材料學科的核心問題之一[1],也是材料科學與工程領域的焦點和難點[2]。目前已經(jīng)發(fā)展了多種測量方法和測量儀器。其中,光學顯微鏡是研究微納材料的重要工具...
摘要:與傳統(tǒng)正投影顯微圖像分析方法不同,本文應用斜投影法,通過變換觀測顆粒群的角度,依據(jù)獲得的光學顯微鏡下顆粒群的信息,推導出了顆粒群厚度的計算公式,并討論了厚度分辨能力與傾斜角、放大倍數(shù)之間的關系,同時應用實例證明了該方法的可行性。?關鍵詞:斜投影;顯微圖像分析;三維重構;體視學中圖分類號...
實際操作時,可以先根據(jù)估計的顆粒的厚度,選擇合適的放大倍數(shù)和所需傾斜的角度,比如估計顆粒的厚度大約為1μm,則可以通過上表的數(shù)據(jù)選用相應的條件,如可選擇放大倍數(shù)40×時,傾斜角為15~30°;或者選用放大倍數(shù)100×時,傾斜角為5~30°。3 測試方法本文就光學顯微鏡下顆粒厚度測量問題進行了大量的...
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