電子探針射線顯微分析
本專題涉及電子探針射線顯微分析的標(biāo)準(zhǔn)有25條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，電子探針射線顯微分析涉及到分析化學(xué)、詞匯、試驗(yàn)條件和規(guī)程綜合。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，電子探針射線顯微分析涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、化學(xué)、物理學(xué)與力學(xué)、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器。
國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于電子探針射線顯微分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 21636-2008 微束分析.電子探針顯微分析(EPMA)術(shù)語(yǔ)
- GB/T 20726-2015 微束分析 電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數(shù)及核查方法
- GB/T 32055-2015 微束分析 電子探針顯微分析 波譜法元素面分析
- GB/T 15247-2008 微束分析.電子探針顯微分析.測(cè)定鋼中碳含量的校正曲線法
- GB/T 20725-2006 波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則
- GB/T 28634-2012 微束分析.電子探針顯微分析.塊狀試樣波譜法定量點(diǎn)分析
- GB/T 30705-2014 微束分析 電子探針顯微分析 波譜法實(shí)驗(yàn)參數(shù)測(cè)定導(dǎo)則
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于電子探針射線顯微分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 21636-2021 微束分析 電子探針顯微分析（EPMA） 術(shù)語(yǔ)
- GB/T 4930-2021 微束分析 電子探針顯微分析 標(biāo)準(zhǔn)樣品技術(shù)條件導(dǎo)則
韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于電子探針射線顯微分析的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 23833-2022 微束分析.電子探針顯微分析（EPMA）.詞匯
- KS D ISO 23833:2022 微束分析.電子探針顯微分析（EPMA）.詞匯
- KS D ISO 16592:2011 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼碳含量的指南
- KS D ISO 16592-2011(2016) 微束分析－電子探針顯微分析－用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼中碳含量的指南
法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于電子探針射線顯微分析的標(biāo)準(zhǔn)
- NF X21-003:2006 微光束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)分布X射線光譜測(cè)量法定量分析指南
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于電子探針射線顯微分析的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 17470:2004 微光束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)分散X射線光譜法分析質(zhì)量點(diǎn)的指南
- ISO 16592:2006 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼的碳含量的指南
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于電子探針射線顯微分析的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS K 0190:2010 微光束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)分散X射線光譜法對(duì)質(zhì)量點(diǎn)分析用指南
- JIS K 0189:2013 微束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)色散X射線光譜學(xué)用實(shí)驗(yàn)參數(shù)的測(cè)定
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于電子探針射線顯微分析的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 17470:2014 微束分析. 電子探針顯微分析. 采用波長(zhǎng)分散X射線光譜測(cè)定法的定性點(diǎn)分析指南
- BS ISO 11938:2013 微束分析.電子探針顯微分析.使用波長(zhǎng)色散光譜對(duì)元素映射的分析方法
- BS ISO 16592:2012 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線法測(cè)定鋼碳含量的指南
- BS ISO 17470:2004 微束分析 電子探針微分析 波長(zhǎng)色散X射線光譜定性點(diǎn)分析指南
- 19/30394914 DC BS ISO 15632 微束分析 用于電子探針顯微鏡或電子探針微量分析儀(EPMA)的能量色散 X 射線光譜儀的規(guī)格和檢查的選定儀器性能參數(shù)
美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于電子探針射線顯微分析的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM STP 317-1962 電子金相學(xué)和電子探針顯微分析進(jìn)展研討會(huì)
巴林國(guó)家計(jì)量局，關(guān)于電子探針射線顯微分析的標(biāo)準(zhǔn)
- BH GSO ISO 17470:2017 微束分析 電子探針微量分析 波長(zhǎng)色散X射線光譜定性點(diǎn)分析指南
