光譜儀金屬分析
本專(zhuān)題涉及光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)有105條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，光譜儀金屬分析涉及到光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、水質(zhì)、分析化學(xué)、有色金屬、光纖通信、金屬材料試驗(yàn)、鐵合金、管道部件和管道、黑色金屬、電信專(zhuān)用測(cè)量設(shè)備、金屬礦、信息學(xué)、出版、光電子學(xué)、激光設(shè)備。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，光譜儀金屬分析涉及到、重金屬及其合金分析方法、屋面、鋪面防水與防潮材料、光學(xué)儀器綜合、光通信設(shè)備、光學(xué)測(cè)試儀器、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、輕金屬及其合金、電力試驗(yàn)技術(shù)、光學(xué)計(jì)量?jī)x器、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、貴金屬及其合金、化學(xué)計(jì)量、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、輕金屬及其合金分析方法、金屬化學(xué)分析方法綜合、鐵礦、光學(xué)計(jì)量、化學(xué)、航空、航天材料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)。
中國(guó)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- T/CIS 17008-2024 分析金屬材料用激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀
- T/SCS 000018-2024 便攜式液體陰極輝光放電水質(zhì)重金屬光譜分析儀
印度尼西亞標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- SNI 06-6596-2001 水處理金屬分析. 原子吸收光譜儀
臺(tái)灣地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- CNS 14341-1999 光譜分析儀
- CNS 10005-1984 金屬材料之光電式發(fā)光光譜分析法通則
(美國(guó))空軍，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- AIR FORCE A-A-59684 A-2009 光譜分析儀
- AIR FORCE A-A-59684-2004 光學(xué)頻譜分析儀
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- BS EN 61290-1-1:1998 光譜分析儀
- BS PD IEC PAS 62129:2004 光譜分析儀的校準(zhǔn)
- BS EN 62129:2006 光譜分析儀的校正
- BS DD ISO/TS 25138:2011 表面化學(xué)分析.輝光放電發(fā)射光譜法分析金屬氧化膜
- BS EN 62129-1:2016 波長(zhǎng)校準(zhǔn)/光頻測(cè)量?jī)x器. 光譜分析儀
- BS PD ISO/TS 25138:2025 表面化學(xué)分析 輝光放電發(fā)射光譜法分析金屬氧化物膜
- PD ISO/TS 25138:2019 表面化學(xué)分析 輝光放電發(fā)射光譜法分析金屬氧化物薄膜
- BS PD ISO/TS 25138:2019 表面化學(xué)分析 輝光放電發(fā)射光譜法分析金屬氧化物薄膜
- PD ISO/TS 25138:2025 表面化學(xué)分析——用輝光放電光學(xué)發(fā)射譜法分析金屬氧化膜
- BS DD ISO/TS 25138:2010 表面化學(xué)分析 輝光放電發(fā)射光譜法分析金屬氧化物薄膜
- BS ISO 16962:2017 表面化學(xué)分析. 采用輝光放電光發(fā)射光譜法分析鋅和/或鋁基金屬涂層
- BS EN 61290-1-3:1998 光纖放大器 基礎(chǔ)光譜分析儀 光功率計(jì)
- PAS 62129-2004 光譜分析儀的校準(zhǔn)（1.0 版；：2006 年）
韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D 1682-2020 鉛金屬光電發(fā)射光譜分析方法
- KS D 2518-2015 金屬鎘的光電發(fā)射光譜分析方法
- KS D 2518-2015(2020) 金屬鎘光電發(fā)射光譜化學(xué)分析方法
- KS D 1650-1993 金屬材料光電發(fā)射光譜化學(xué)分析通則
- KS D 1680-2008 照相測(cè)光法分析金屬材料的發(fā)射光譜分析法通則
- KS D 1670-1987 有色金屬發(fā)射光譜化學(xué)分析方法
- KS D 2518-2020 金屬鎘的光電發(fā)射光譜化學(xué)分析方法
- KS D 1657-1981 金屬材料光電發(fā)射光譜化學(xué)分析方法
- KS D 1685-1993 金屬鋅的發(fā)射光譜化學(xué)分析方法
- KS C 6918-1995 光頻譜分析儀試驗(yàn)法
- KS C 6918-2020 光纖光譜分析儀測(cè)試方法
- KS D 1650-2008 金屬材料的光電發(fā)射光譜分析方法通則
- KS D 1680-1993 金屬材料照相發(fā)射光譜化學(xué)分析通則
- KS D 1672-1987 鋅金屬中鉛發(fā)射光譜化學(xué)分析方法通則
- KS C 6918-1995(2024) 光纖頻譜分析儀的測(cè)試方法
- KS C 6918-1995(2020) 光纖頻譜分析儀的測(cè)試方法
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS H 1123:2021 鉛金屬光電發(fā)射光譜分析方法
- JIS H 1123:1995 鉛金屬的光電發(fā)射光譜化學(xué)分析法
- JIS H 1113:2022 金屬鋅的光電發(fā)射光譜化學(xué)分析方法
- JIS H 1163:1991 鎘金屬的光電發(fā)射光譜化學(xué)分析方法
- JIS C 6192:2008 光譜分析儀的校準(zhǔn)
- JIS Z 2611:1977 金屬材料光電發(fā)射光譜化學(xué)分析的通用規(guī)則
- JIS M 8205:2000 鐵礦石.X射線(xiàn)熒光光譜儀分析
- JIS C 6183-1:2019 光譜分析儀. 第1部分: 試驗(yàn)方法
俄羅斯標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GOST 9716.2-1979 銅鋅合金 金屬標(biāo)準(zhǔn)樣品光譜光電配準(zhǔn)法光譜分析
- GOST 9716.1-1979 銅鋅合金 光譜照相配準(zhǔn)金屬標(biāo)準(zhǔn)樣品光譜分析方法
- GOST 9717.2-2018 銅 有光電記錄光譜的金屬標(biāo)準(zhǔn)試樣的光譜分析法
- GOST 9717.2-1982 銅.有光電記錄光譜的金屬標(biāo)準(zhǔn)試樣的光譜分析法
- GOST 12562.2-1982 金鉑合金.光譜分析法
- GOST 12563.2-1983 金鈀合金.光譜分析法
- GOST 7728-1979 鎂合金.光譜分析法
- GOST 7727-1981 鋁合金.光譜分析法
- GOST 20068.2-1979 無(wú)錫青銅.對(duì)有光譜拍照記錄的金屬標(biāo)準(zhǔn)樣品的光譜分析法
- GOST 23328-1978 鋅合金 光譜分析法
- GOST 12564.2-1983 金鈀鉑合金.光譜分析法
- GOST 7.28-1980 鎂合金 光譜分析法
- GOST 23902-1979 鈦合金.光譜分析法
- GOST 23328-1995 鋅合金.光譜分析法
- GOST 20068.1-1979 無(wú)錫青銅.對(duì)有光譜照像記錄的金屬標(biāo)準(zhǔn)樣品的光譜分析法
歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- CEN EN 62129-2006 光譜分析儀校準(zhǔn)
- CEN EN 62129-2006_ 光譜分析儀校準(zhǔn)
- CEN/TR 10354:2011 黑色金屬材料化學(xué)分析 硅鐵分析 X射線(xiàn)熒光光譜法測(cè)定硅和鋁
法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- NF C93-845:2006 光譜分析儀校準(zhǔn)
- NF A06-001:1979 輕金屬的光譜分析.實(shí)驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)處理.統(tǒng)計(jì)分析
意大利電工委員會(huì)，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- CEI EN 62129:2006 光譜分析儀的校準(zhǔn)
意大利統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- UNI EN 14242:2004 鋁及鋁合金 化學(xué)分析 光譜儀電感耦合等離子體發(fā)射光譜分析
國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- JJG 1035-2022 通信用光譜分析儀
- JJG(電子) 30901-2006 光譜分析儀檢定規(guī)程
- JJG 1035-2008 通信用光譜分析儀檢定規(guī)程
瑞典標(biāo)準(zhǔn)研究所，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- SS-EN 62129:2006 光譜分析儀的校準(zhǔn)
- SIS-ISO/TS 25138:2019 表面化學(xué)分析 輝光放電發(fā)射光譜法分析金屬氧化物薄膜
丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- DS/EN 62129/Corr. 1:2007 光譜分析儀的校準(zhǔn)
- DS/EN 62129:2006 光譜分析儀的校準(zhǔn)
- DANSK DS/EN 62129:2006 光譜分析儀的校準(zhǔn)
- DANSK DS/CEN/TR 10354:2011 黑色金屬材料化學(xué)分析 硅鐵分析 X射線(xiàn)熒光光譜法測(cè)定硅和鋁
國(guó)際電工委員會(huì)，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- IEC PAS 62129:2004 光譜分析儀的校正
- IEC 62129:2006 光譜分析儀校準(zhǔn)方法
德國(guó)機(jī)械工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- VDI VDE DGQ DKD 2622 Blatt-11 E:2019-11 光譜分析儀的校準(zhǔn)
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-能源電力規(guī)劃，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- DL/T 991-2006 電力設(shè)備金屬光譜分析技術(shù)導(dǎo)則
美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM STP 221-1958 微量金屬的光譜化學(xué)分析研討會(huì)
- ASTM E2626-08 反應(yīng)性難熔金屬光譜測(cè)定分析標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E2626-08e1 反應(yīng)性難熔金屬光譜測(cè)定分析標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1085-95(2004)e1 金屬的X射線(xiàn)輻射光譜測(cè)定分析試驗(yàn)方法
RO-ASRO，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- STAS 11607-1981 低合金碳鋼和中合金碳鋼光譜攝制儀分析
國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 32996-2025 表面化學(xué)分析 輝光放電發(fā)射光譜法分析金屬氧化物膜
- GB/T 32996-2016 表面化學(xué)分析 輝光放電發(fā)射光譜法分析金屬氧化物膜
- GB/T 25481-2010 在線(xiàn)紫外/可見(jiàn)分光光譜分析儀
國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- JJF 1133-2005 X射線(xiàn)熒光光譜法黃金含量分析儀校準(zhǔn)規(guī)范
未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS H 1113:1976(1994) 鋅金屬化學(xué)成分光發(fā)射譜化學(xué)分析法
南非標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- SANS 62129:2008 光學(xué)頻譜分析儀的校正
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO/TS 25138:2025 表面化學(xué)分析 輝光放電發(fā)射光譜法分析金屬氧化物薄膜
- ISO/TS 25138:2019 表面化學(xué)分析 - 通過(guò)輝光放電發(fā)射光譜法分析金屬氧化物膜
- ISO 16962:2017 表面化學(xué)分析. 采用輝光放電光發(fā)射光譜法分析鋅和/或鋁基金屬涂層
- ISO/TS 25138:2010 表面化學(xué)分析.用輝光放電發(fā)射光譜測(cè)定法分析金屬氧化物薄膜
德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN EN 62129:2007 光譜分析儀的校正(IEC 62129-2006)
- DIN ISO 16962:2018-12 化學(xué)表面分析 輝光放電發(fā)射光譜法分析鋅和/或鋁基金屬涂層
- DIN ISO 16962 E:2018-06 表面化學(xué)分析 通過(guò)輝光放電光發(fā)射光譜法分析鋅基和/或鋁基金屬涂層
海灣阿拉伯國(guó)家合作委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)組織，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GSO ISO/TS 25138:2013 表面化學(xué)分析 通過(guò)輝光放電發(fā)射光譜法分析金屬氧化物層
立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- LST EN 62129-2006 光譜分析儀的校準(zhǔn)（IEC 62129:2006）
- LST EN 62129-2006/AC-2007 光譜分析儀的校準(zhǔn)（IEC 62129:2006）
挪威標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- SN-CEN/TR 10354:2011 黑色金屬材料化學(xué)分析 硅鐵分析 X射線(xiàn)熒光光譜法測(cè)定硅和鋁
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-航空，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- HB/Z 208-1991 有色金屬材料光譜分析用試祥的取樣規(guī)范
歐洲電工標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- EN 62129-1:2016 波長(zhǎng)/光頻率測(cè)量?jī)x器的校準(zhǔn) 第1部分：光譜分析儀
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- JB/T 12962.2-2016 能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀 第2部分：元素分析儀
西班牙標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于光譜儀金屬分析的標(biāo)準(zhǔn)
- UNE-EN 62129-1:2016 波長(zhǎng)/光頻率測(cè)量?jī)x器的校準(zhǔn) 第1部分：光譜分析儀
