材料 icp
本專題涉及材料 icp的標(biāo)準(zhǔn)有15條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，材料 icp涉及到陶瓷、分析化學(xué)。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，材料 icp涉及到陶瓷、玻璃綜合、建筑衛(wèi)生陶瓷、特種陶瓷。
德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于材料 icp的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN 51457-2017 陶瓷原材料和基礎(chǔ)材料試驗(yàn). 采用電感耦合等離子體(ICP OES)光發(fā)射光譜法和電熱蒸發(fā)直接測定石墨粉末, 顆粒和團(tuán)塊中痕量雜質(zhì)的質(zhì)量分?jǐn)?shù)
- DIN EN ISO 14720-2-2013 陶瓷原材料和基本材料試驗(yàn). 非氧化陶瓷原材料和基本材料粉末及顆粒中硫的測定. 第2部分: 氧氣流環(huán)境下燃燒后的感應(yīng)耦合等離子體光學(xué)發(fā)射光譜法(ICP/OES)或離子色譜法(ISO 14720-2-2013); 德文版本EN ISO 14720-2-2013
- DIN 51096-2008 陶瓷原材料和基本材料的測試.用感應(yīng)耦合等離子體光學(xué)發(fā)射光譜測定法(ICP OES)和電熱蒸餾器(ETV)直接測定碳化硅粉末和顆粒中雜質(zhì)的質(zhì)量分率
- DIN 51095-2-2007 陶瓷原料和基本材料的測試.非氧化陶瓷原料和基本材料的粉末和顆粒中硫含量的測定.第2部分:氧流量中燃燒后的感應(yīng)耦合等離子光發(fā)射光譜測定法(ICP OES)或離子色譜法(IC)
歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于材料 icp的標(biāo)準(zhǔn)
- EN 15991-2015 陶瓷和基本材料的檢驗(yàn).通過電感耦合等離子體光學(xué)發(fā)射光譜法(ICP OES)與電熱汽化(ETV)的粉末和碳化硅的顆粒雜質(zhì)質(zhì)量分?jǐn)?shù)的直接測定
- EN 15991-2015 陶瓷和基本材料的檢驗(yàn).通過電感耦合等離子體光學(xué)發(fā)射光譜法(ICP OES)與電熱汽化(ETV)的粉末和碳化硅的顆粒雜質(zhì)質(zhì)量分?jǐn)?shù)的直接測定
- EN ISO 14720-2-2013 陶瓷原料和基本材料的測試 非氧化陶瓷原料和基本材料的的粉末和粒料中硫含量的測定 第2部分：在氧氣流中燃燒后的電感耦合等離子體光發(fā)射光譜法（ICP/OES）或離子色譜法
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于材料 icp的標(biāo)準(zhǔn)
法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于材料 icp的標(biāo)準(zhǔn)
- NF B40-675-2-2013 陶瓷原料和基本材料的測試.非氧化陶瓷原料和基本材料的硫磺粉和顆粒的測定.第2部分:電感耦合等離子發(fā)射光譜(ICP/OES)或氧氣流燃燒后的離子色譜法
- NF B41-106-2011 陶瓷原料和基本材料的測試.電熱蒸發(fā)(ETV)電感耦合等離子體發(fā)射光譜法(ICP OES)直接測定碳化硅粉末和顆粒中雜質(zhì)質(zhì)量分?jǐn)?shù).
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于材料 icp的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 14720-2-2013 生陶瓷和基本材料的測試.非氧化生陶瓷和基本材料的硫磺粉和顆粒的測定.第2部分:電感耦合等離子發(fā)射光譜(ICP/OES)或氧氣流燃燒后的離子色譜法
- ISO 14720-2:2013 陶瓷原材料和基礎(chǔ)材料的測試——非氧化陶瓷原材料和基本材料粉末和顆粒中硫的測定第2部分:在氧氣流中燃燒后的電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP/OES）或離子色譜法
，關(guān)于材料 icp的標(biāo)準(zhǔn)