根據(jù)材料顆粒度的不同，既可采用一般的光學(xué)顯微鏡，也可以采用電子顯微鏡。光學(xué)顯微鏡測定防衛(wèi)為0.8~150?m，小于0.8?m者必須用電子顯微鏡觀察。掃描電鏡和透射電子顯微鏡常用于直接觀察大小在1nm~5?m范圍內(nèi)的顆粒，適合納里材料的粒度大小和形貌分析。顯微鏡法可以了解在制備過程中顆粒的形狀，繪出特定表面的粒度分布圖，而不只是平均粒度的分布圖。...
根據(jù)材料顆粒度的不同，既可采用一般的光學(xué)顯微鏡，也可以采用電子顯微鏡。光學(xué)顯微鏡測定防衛(wèi)為0.8~150?m，小于0.8?m者必須用電子顯微鏡觀察。掃描電鏡和透射電子顯微鏡常用于直接觀察大小在1nm~5?m范圍內(nèi)的顆粒，適合納里材料的粒度大小和形貌分析。顯微鏡法可以了解在制備過程中顆粒的形狀，繪出特定表面的粒度分布圖，而不只是平均粒度的分布圖。...
樣品物象的表征包括形貌、粒度和晶相三個(gè)方面。物相分析一般使用 X－射線粉末衍射儀（XRD）和電子顯微鏡。形貌和粒度可通過掃描電鏡（SEM）和透射電鏡（TEM）直接觀測到粒子的大小和形狀。但由于電鏡只能觀測局部區(qū)域，可能產(chǎn)生較大的統(tǒng)計(jì)誤差。...
納米型和微米型激光料度儀還可以通過安裝的軟件來分析顆粒的形狀。現(xiàn)在已經(jīng)成為顆粒測試的主流。? ? ? ?...
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