當(dāng)小晶體的尺寸和形狀基本一致時(shí)，計(jì)算結(jié)果比較可靠。但一般粉末試樣的具體大小都有一定的分布，謝樂的微晶尺度計(jì)算公式需修正，否則只能是近似結(jié)果。X射線衍射法是非破壞性檢測(cè)方法，測(cè)量的準(zhǔn)確度還與樣品內(nèi)部應(yīng)力大小有關(guān)?！ ?em>透射電子顯微鏡法是通過納米粒子在照片上的投影來(lái)直接反映顆粒的形貌與尺寸，故此法的優(yōu)點(diǎn)是可直接觀察形貌和測(cè)定粒徑大小，具有一定的直觀性與可信性。...
TEM：透射電子顯微鏡法是通過納米粒子在照片上的投影來(lái)直接反映顆粒的形貌與尺寸，故此法的優(yōu)點(diǎn)是可直接觀察形貌和測(cè)定粒徑大小，具有一定的直觀性與可信性。但是該法是對(duì)局部區(qū)域觀察的結(jié)果，所以有一定的偶然性及統(tǒng)計(jì)誤差，需要通過多幅照片利用一定數(shù)量粒子粒徑測(cè)量統(tǒng)計(jì)分析得到納米粒子的平均粒徑。...
根據(jù)材料顆粒度的不同，既可采用一般的光學(xué)顯微鏡，也可以采用電子顯微鏡。光學(xué)顯微鏡測(cè)定防衛(wèi)為0.8~150?m，小于0.8?m者必須用電子顯微鏡觀察。掃描電鏡和透射電子顯微鏡常用于直接觀察大小在1nm~5?m范圍內(nèi)的顆粒，適合納里材料的粒度大小和形貌分析。顯微鏡法可以了解在制備過程中顆粒的形狀，繪出特定表面的粒度分布圖，而不只是平均粒度的分布圖。...
根據(jù)材料顆粒度的不同，既可采用一般的光學(xué)顯微鏡，也可以采用電子顯微鏡。光學(xué)顯微鏡測(cè)定防衛(wèi)為0.8~150?m，小于0.8?m者必須用電子顯微鏡觀察。掃描電鏡和透射電子顯微鏡常用于直接觀察大小在1nm~5?m范圍內(nèi)的顆粒，適合納里材料的粒度大小和形貌分析。顯微鏡法可以了解在制備過程中顆粒的形狀，繪出特定表面的粒度分布圖，而不只是平均粒度的分布圖。...
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