GB/T 42838-2023
半導(dǎo)體集成電路 霍爾電路測試方法
Semiconductor Integrated Circuit Hall Circuit Test Method
GBT42838-2023, GB42838-2023
GB/T 42838-2023 發(fā)布?xì)v史
GB/T 42838-2023由國家質(zhì)檢總局 CN-GB 發(fā)布于 2023-08-06，并于 2023-12-01 實(shí)施。
GB/T 42838-2023 在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: L56 半導(dǎo)體集成電路，在國際標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: 31.200 集成電路、微電子學(xué)。
GB/T 42838-2023 半導(dǎo)體集成電路 霍爾電路測試方法的最新版本是哪一版？
最新版本是 GB/T 42838-2023 。
GB/T 42838-2023的歷代版本如下：
- 2023年 GB/T 42838-2023 半導(dǎo)體集成電路 霍爾電路測試方法
本文件規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路霍爾電路電特性測試方法。 本文件適用于半導(dǎo)體集成電路霍爾電路電特性的測試。
| 術(shù)語 | 描述 |
|---|---|
| 工作點(diǎn)磁感應(yīng)強(qiáng)度 Magnetic operate point B_{op} | 在工作點(diǎn)上垂直穿過單位面積的磁力線的數(shù)量。 |
| 釋放點(diǎn)磁感應(yīng)強(qiáng)度 Magnetic release point {\pmb{{\cal B}}}_{\bf RP} | 在釋放點(diǎn)上垂直穿過單位面積的磁力線的數(shù)量。 |
| 回差 Return difference δB_{H} | 在儀表全部測量范圍內(nèi)，被測量值上行和下行所得到的兩條特性曲線之間的最大偏差。 |
| 輸出上升時(shí)間 Output rise time t_r | 電路輸出由低電平變?yōu)楦唠娖剿璧臅r(shí)間。 |
| 輸出下降時(shí)間 Output fall time t_f | 電路輸出由高電平變?yōu)榈碗娖剿璧臅r(shí)間。 |
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- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- GB/T 42838-2023
- 別名
- GBT42838-2023
GB42838-2023 - 發(fā)布
- 2023年
- 總頁數(shù)
- 13頁
- 發(fā)布單位
- 國家質(zhì)檢總局
- 當(dāng)前最新
- GB/T 42838-2023
GB/T 42838-2023 中提到的儀器設(shè)備
| 測試系統(tǒng) | 用于半導(dǎo)體集成電路霍爾電路電特性測試的專用設(shè)備。 |
| 信號(hào)發(fā)生器 | 生成測試向量或真值表的設(shè)備。 |
| 磁強(qiáng)計(jì) | 測量磁場強(qiáng)度的儀器。 |
GB/T 42838-2023相似標(biāo)準(zhǔn)
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