GB/T 42838-2023
半導體集成電路 霍爾電路測試方法
Semiconductor Integrated Circuit Hall Circuit Test Method
GBT42838-2023, GB42838-2023
- 標準號
- GB/T 42838-2023
- 別名
- GBT42838-2023, GB42838-2023
- 發(fā)布
- 2023年
- 總頁數(shù)
- 13頁
- 發(fā)布單位
- 國家質(zhì)檢總局
- 當前最新
- GB/T 42838-2023
- 引用標準
- GB/T 17574-1998
- 適用范圍
- 本文件規(guī)定了半導體集成電路霍爾電路電特性測試方法。 本文件適用于半導體集成電路霍爾電路電特性的測試。
| 術語 | 描述 |
|---|---|
| 工作點磁感應強度 Magnetic operate point B_{op} | 在工作點上垂直穿過單位面積的磁力線的數(shù)量。 |
| 釋放點磁感應強度 Magnetic release point {\pmb{{\cal B}}}_{\bf RP} | 在釋放點上垂直穿過單位面積的磁力線的數(shù)量。 |
| 回差 Return difference δB_{H} | 在儀表全部測量范圍內(nèi)，被測量值上行和下行所得到的兩條特性曲線之間的最大偏差。 |
| 輸出上升時間 Output rise time t_r | 電路輸出由低電平變?yōu)楦唠娖剿璧臅r間。 |
| 輸出下降時間 Output fall time t_f | 電路輸出由高電平變?yōu)榈碗娖剿璧臅r間。 |
GB/T 42838-2023 中提到的儀器設備
| 信號發(fā)生器 | 生成測試向量或真值表的設備。 |
| 測試系統(tǒng) | 用于半導體集成電路霍爾電路電特性測試的專用設備。 |
| 磁強計 | 測量磁場強度的儀器。 |
其他標準
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