NF ISO 16242:2012
表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜(AES)數(shù)據(jù)記錄和報(bào)告

Analyse chimique des surfaces - Enregistrement et notification des données en spectroscopie des électrons Auger (AES)

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

NF ISO 16242:2012

發(fā)布

2012年

發(fā)布單位

法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)

當(dāng)前最新

NF ISO 16242:2012

 

 

介紹

該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了表面化學(xué)分析中使用俄歇電子能譜（AES）技術(shù)時(shí)的數(shù)據(jù)記錄和報(bào)告方法。通過(guò)詳細(xì)規(guī)范實(shí)驗(yàn)條件、儀器設(shè)置以及數(shù)據(jù)處理流程，確保不同實(shí)驗(yàn)室之間結(jié)果的可比性和一致性。此外，它還提供了報(bào)告格式建議，以便于同行評(píng)審和其他科研人員的理解與應(yīng)用。

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專題

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