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俄歇電子能譜 分析 報告
本專題涉及俄歇電子能譜 分析 報告的標(biāo)準(zhǔn)有107條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，俄歇電子能譜 分析 報告涉及到無損檢測、分析化學(xué)、光學(xué)設(shè)備、光學(xué)和光學(xué)測量、電子元器件綜合、長度和角度測量。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，俄歇電子能譜 分析 報告涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、光學(xué)測試儀器、標(biāo)準(zhǔn)化、質(zhì)量管理、化學(xué)、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置。
SCC，關(guān)于俄歇電子能譜 分析 報告的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN ISO 16242 E:2019 文件草案 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 (AES) 記錄和報告數(shù)據(jù) (ISO 16242:2011) 英文文本
- BS ISO 20903:2006 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 用于確定峰值強度的方法和報告結(jié)果時所需的信息
- BS PD ISO/TR 18394:2006 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 化學(xué)信息的推導(dǎo)
- BS ISO 15471:2004 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 所選儀器性能參數(shù)的描述
- BS ISO 17973:2002 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
- BS PD ISO/TR 19319:2003 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測定
法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于俄歇電子能譜 分析 報告的標(biāo)準(zhǔn)
- NF ISO 16242:2012 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜(AES)數(shù)據(jù)記錄和報告
- NF X21-072*NF ISO 16242:2012 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜術(shù)(AES)的記錄和報告數(shù)據(jù)
- NF X21-068*NF ISO 29081:2010 表面化學(xué)分析 俄歇電子光譜法 電荷控制和校正用方法的報告
- NF ISO 24236:2006 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 能級的重復(fù)性和恒定性
- NF X21-058:2006 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜學(xué)和X射線光電子光譜法.測定峰強度使用的方法和報告結(jié)果時需要的信息
- NF ISO 17973:2006 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
- NF ISO 29081:2010 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 電荷控制和校正所采用的方法的指示
- NF ISO 17974:2009 表面化學(xué)分析 高分辨率俄歇電子能譜儀 用于元素和化學(xué)狀態(tài)分析的能量標(biāo)度校準(zhǔn)
美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于俄歇電子能譜 分析 報告的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E996-94(1999) 俄歇電子能譜分析和X射線光電子光譜分析數(shù)據(jù)報告的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
- ASTM E996-10(2018) 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數(shù)據(jù)報告的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程
- ASTM E996-19 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數(shù)據(jù)報告的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程
- ASTM E996-04 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報告數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
- ASTM E996-10 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報告數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
GSO，關(guān)于俄歇電子能譜 分析 報告的標(biāo)準(zhǔn)
- GSO ISO 16242:2015 表面化學(xué)分析 在俄歇電子能譜中記錄和報告數(shù)據(jù)
- BH GSO ISO 16242:2017 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 (AES) 中記錄和報告數(shù)據(jù)
- BH GSO ISO 29081:2016 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 電荷控制和電荷校正方法的報告
- OS GSO ISO 29081:2013 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 電荷控制和電荷校正方法的報告
- BH GSO ISO 20903:2016 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 用于確定峰強度和報告結(jié)果時所需信息的方法
- GSO ISO/TR 18394:2021 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 化學(xué)信息的推導(dǎo)
- BH GSO ISO 18516:2016 表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率的測定
- OS GSO ISO 18516:2013 表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率的測定
- GSO ISO 18516:2013 表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率的測定
- GSO ISO 17973:2013 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能級的校準(zhǔn)
- BH GSO ISO 17973:2016 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能級的校準(zhǔn)
- OS GSO ISO 17973:2013 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能級的校準(zhǔn)
- BH GSO ISO 21270:2016 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標(biāo)度的線性
- OS GSO ISO 21270:2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標(biāo)度的線性
- GSO ISO 21270:2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標(biāo)度的線性
- BH GSO ISO 17974:2016 表面化學(xué)分析 高分辨率俄歇電子能譜儀 元素和化學(xué)態(tài)分析能級的校準(zhǔn)
- OS GSO ISO 17974:2014 表面化學(xué)分析 高分辨率俄歇電子能譜儀 元素和化學(xué)態(tài)分析能級的校準(zhǔn)
- GSO ISO 13424:2015 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果報告
- BH GSO ISO 13424:2017 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果報告
- OS GSO ISO 13424:2015 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果報告
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于俄歇電子能譜 分析 報告的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 16242:2011 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜術(shù)(AES)的記錄和報告數(shù)據(jù)
- ISO 29081:2010 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜法.電荷控制和電荷調(diào)整用報告法
- ISO/TR 18394:2016 表面化學(xué)分析. 俄歇電子能譜學(xué). 提取化學(xué)信息
- ISO 20903:2019 表面化學(xué)分析 - 俄歇電子光譜和X射線光電子能譜 - 用于確定峰值強度的方法和報告結(jié)果時所需的信息
- ISO/DIS 17973:2023 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能級的校準(zhǔn)
- ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標(biāo)的線性
- ISO/CD 17973 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
- ISO/TR 18394:2006 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法.化學(xué)信息的推導(dǎo)
- ISO 15471:2004 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
- ISO 15471:2016 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
- ISO/TR 19319:2003 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
- ISO 20903:2011 表面化學(xué)分析.俄歇電子能普和X射線光電子光譜.通報結(jié)果所需峰值強度和信息的測定方法
- ISO 18516:2006 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測定
- ISO 18118:2024 表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜均勻材料定量分析用實驗確定的相對靈敏度因子的使用指南
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于俄歇電子能譜 分析 報告的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 16242:2011 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜術(shù)的記錄和報告數(shù)據(jù)(AEC)
- BS ISO 29081:2010 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜法.電荷控制和電荷調(diào)整用報告法
- BS ISO 20903:2019 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 用于確定峰值強度的方法和報告結(jié)果時所需的信息
- PD ISO/TR 18394:2016 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 化學(xué)信息的推導(dǎo)
- BS ISO 20903:2011 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X-射線光電光譜學(xué).測定峰強度的方法和報告結(jié)果要求的信息
- BS ISO 18516:2006(2010) 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率的測定
- BS ISO 15471:2016 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 所選儀器性能參數(shù)的描述
- BS ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度尺度的線性
- BS ISO 21270:2004(2010) 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標(biāo)度線性度
- BS ISO 17973:2016 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
- BS ISO 17974:2002(2010) 表面化學(xué)分析 高分辨率俄歇電子能譜儀 元素和化學(xué)態(tài)分析能級的校準(zhǔn)
- 23/30469291 DC BS ISO 17973 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)
- BS PD ISO/TR 18394:2016 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法.化學(xué)信息的推導(dǎo)
- BS ISO 15471:2005 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
- BS ISO 18516:2006 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測定
- BS ISO 21270:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子和俄歇電子光譜儀.強度標(biāo)的線性度
未注明發(fā)布機構(gòu)，關(guān)于俄歇電子能譜 分析 報告的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN ISO 16242 E:2019-10 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜（AES）中的數(shù)據(jù)記錄和報告
德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會，關(guān)于俄歇電子能譜 分析 報告的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN ISO 16242:2020-05 表面化學(xué)分析 在俄歇電子能譜(AES)中記錄和報告數(shù)據(jù)
- DIN ISO 16242:2020 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜（AES）中的數(shù)據(jù)記錄和報告（ISO 16242:2011）；英文文本
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于俄歇電子能譜 分析 報告的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 26533-2011 俄歇電子能譜分析方法通則
- GB/T 28893-2012 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.測定峰強度的方法和報告結(jié)果所需的信息
- GB/T 28893-2024 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 測定峰強度的方法和報告結(jié)果所需的信息
- GB/Z 32494-2016 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 化學(xué)信息的解析
- GB/T 28632-2012 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.橫向分辨率測定
- GB/T 21006-2007 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標(biāo)的線性
- GB/T 25187-2010 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜.選擇儀器性能參數(shù)的表述
- GB/T 29732-2013 表面化學(xué)分析 中等分辨率俄歇電子譜儀 元素分析用能量標(biāo)校準(zhǔn)
- GB/T 29558-2013 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 強度標(biāo)的重復(fù)性和一致性
- GB/T 29731-2013 表面化學(xué)分析 高分辨俄歇電子能譜儀 元素和化學(xué)態(tài)分析用能量標(biāo)校準(zhǔn)
- GB/T 29556-2013 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測到的樣品面積的測定
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于俄歇電子能譜 分析 報告的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 32565-2016 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜（AES）數(shù)據(jù)記錄與報告的規(guī)范要求
- GB/T 32998-2016 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 荷電控制與校正方法報告的規(guī)范要求
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于俄歇電子能譜 分析 報告的標(biāo)準(zhǔn)
- SJ/T 10457-1993 俄歇電子能譜術(shù)深度剖析標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)則
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于俄歇電子能譜 分析 報告的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 36504-2018 印刷線路板表面污染物分析 俄歇電子能譜
- GB/T 29732-2021 表面化學(xué)分析 中等分辨俄歇電子能譜儀 元素分析用能量標(biāo)校準(zhǔn)
RU-GOST R，關(guān)于俄歇電子能譜 分析 報告的標(biāo)準(zhǔn)
- GOST R ISO 16242-2016 確保測量一致性的國家系統(tǒng). 表面化學(xué)分析. 俄歇電子能譜學(xué) (AES) 的記錄和報告數(shù)據(jù)
韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于俄歇電子能譜 分析 報告的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 15471-2020 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 所選儀器性能參數(shù)說明
- KS D ISO 17973-2021 表面化學(xué)分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能級的校準(zhǔn)
- KS D ISO 21270:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標(biāo)的線性
- KS D ISO 21270-2020 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜和俄歇電子能譜儀 強度標(biāo)度線性度
- KS D ISO 17973-2011(2016) 表面化學(xué)分析中分辨率俄歇電子能譜儀元素分析用能標(biāo)的校準(zhǔn)
- KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強度標(biāo)度的線性
- KS D ISO 15471-2005(2020) 表面化學(xué)分析－俄歇電子能譜學(xué)－選定儀器性能參數(shù)的描述
- KS D ISO 17973-2011(2021) 表面化學(xué)分析——中分辨率俄歇電子光譜儀——元素分析用能標(biāo)的校準(zhǔn)
- KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化學(xué)分析－俄歇電子能譜和X射線光電子能譜－分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測定
- KS D ISO 17974-2021 表面化學(xué)分析 高分辨率俄歇電子能譜儀 元素和化學(xué)態(tài)分析能級的校準(zhǔn)
- KS D ISO 15471:2005 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
- KS D ISO 17974-2011(2016) 表面化學(xué)分析高分辨率俄歇電子能譜儀元素和化學(xué)狀態(tài)分析用能標(biāo)的校準(zhǔn)
- KS D ISO 19319:2005 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
- KS D ISO 19319-2020 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析儀觀察到的樣品面積的測定
- KS D ISO 17974-2011(2021) 表面化學(xué)分析——高分辨率俄歇電子光譜儀——元素和化學(xué)狀態(tài)分析用能標(biāo)的校準(zhǔn)
- KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜均勻材料定量分析用實驗測定的相對靈敏度因子的使用指南
- KS D ISO 18118-2020 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 均質(zhì)材料定量分析中實驗確定的相對靈敏度因子的使用指南
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，關(guān)于俄歇電子能譜 分析 報告的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS K 0161:2010 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
