GB/T 4937.1-2006
半導(dǎo)體器件 機械和氣候試驗方法 第1部分:總則
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 1: General
GBT4937.1-2006, GB4937.1-2006
- 標準號
- GB/T 4937.1-2006
- 別名
- GBT4937.1-2006, GB4937.1-2006
- 發(fā)布
- 2006年
- 總頁數(shù)
- 7頁
- 采用標準
- IEC 60749-1:2002 IDT
- 發(fā)布單位
- 國家質(zhì)檢總局
- 當(dāng)前最新
- GB/T 4937.1-2006
- 引用標準
- IEC 60050 IEC 60747 IEC 60748
- 被代替標準
- GB/T 4937-1995
- 本體
- 半導(dǎo)體器件
- 適用范圍
- 本部分適用于半導(dǎo)體器件（分立器件和集成電路）并為GB/T 4937系列的其他部分建立通用準則。 當(dāng)本部分與相應(yīng)的詳細規(guī)范有矛盾時，以詳細規(guī)范為準。
| 半導(dǎo)體器件 Semiconductor devices | 包括分立器件和集成電路 |
| 引線強度 Lead strength | 用于測試半導(dǎo)體器件的機械性能 |
GB/T 4937.1-2006 中可能用到的儀器設(shè)備
專題
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