能譜分析和俄歇電子
本專題涉及能譜分析和俄歇電子的標準有11條。
國際標準分類中，能譜分析和俄歇電子涉及到分析化學(xué)、光學(xué)設(shè)備、光學(xué)和光學(xué)測量、無損檢測。
在中國標準分類中，能譜分析和俄歇電子涉及到基礎(chǔ)標準與通用方法、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器。
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關(guān)于能譜分析和俄歇電子的標準
- GB/T 36504-2018 印刷線路板表面污染物分析 俄歇電子能譜
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于能譜分析和俄歇電子的標準
- GB/T 29556-2013 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測到的樣品面積的測定
- GB/T 26533-2011 俄歇電子能譜分析方法通則
日本工業(yè)標準調(diào)查會，關(guān)于能譜分析和俄歇電子的標準
- JIS K0167-2011 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜和X射線光電子能譜學(xué).勻質(zhì)材料定量分析用實驗室測定相對敏感因子的使用指南
，關(guān)于能譜分析和俄歇電子的標準
- KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化學(xué)分析－俄歇電子能譜和X射線光電子能譜－分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測定
韓國標準，關(guān)于能譜分析和俄歇電子的標準
- KS D ISO 19319-2005 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
- KS D ISO 19319-2005 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
國際標準化組織，關(guān)于能譜分析和俄歇電子的標準
- ISO/TR 19319-2003 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
- ISO/TR 19319:2003 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.用分析儀觀察橫向分辨率 分析面積和樣品面積的測定
美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于能譜分析和俄歇電子的標準
- ASTM E996-1994(1999) 俄歇電子能譜分析和X射線光電子光譜分析數(shù)據(jù)報告的標準規(guī)程
澳大利亞標準協(xié)會，關(guān)于能譜分析和俄歇電子的標準
- AS ISO 18118-2006 表面化學(xué)分析．俄歇電子能譜法和X射線光電子光譜法．均質(zhì)材料定量分析中實驗測定的相對靈敏系數(shù)使用指南
