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電子 顯微 探針

本專題涉及電子 顯微 探針的標(biāo)準(zhǔn)有54條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中,電子 顯微 探針涉及到詞匯、分析化學(xué)、有色金屬、試驗(yàn)條件和規(guī)程綜合、光學(xué)設(shè)備、教育、長度和角度測量、機(jī)械試驗(yàn)、光學(xué)和光學(xué)測量。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中,電子 顯微 探針涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、、放大鏡與顯微鏡、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、化學(xué)、教學(xué)專用儀器、鋼鐵與鐵合金分析方法、光學(xué)計(jì)量。


韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局,關(guān)于電子 顯微 探針的標(biāo)準(zhǔn)

國家質(zhì)檢總局,關(guān)于電子 顯微 探針的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 21636-2021 微束分析 電子探針顯微分析(EPMA) 術(shù)語
  • GB/T 21636-2008 微束分析.電子探針顯微分析(EPMA)術(shù)語
  • GB/T 32055-2015 微束分析 電子探針顯微分析 波譜法元素面分析
  • GB/T 20725-2006 波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則
  • GB/T 20725-2025 微束分析 電子探針顯微分析 波譜法定性點(diǎn)分析導(dǎo)則
  • GB/T 4930-2021 微束分析 電子探針顯微分析 標(biāo)準(zhǔn)樣品技術(shù)條件導(dǎo)則
  • GB/T 30705-2014 微束分析 電子探針顯微分析 波譜法實(shí)驗(yàn)參數(shù)測定導(dǎo)則
  • GB/T 43889-2024 微束分析 電子探針顯微分析儀(EPMA)質(zhì)量保證程序?qū)嵤?dǎo)則
  • GB/T 28634-2012 微束分析.電子探針顯微分析.塊狀試樣波譜法定量點(diǎn)分析
  • GB/T 15247-2008 微束分析.電子探針顯微分析.測定鋼中碳含量的校正曲線法
  • GB/T 23414-2009 微束分析.掃描電子顯微術(shù).術(shù)語
  • GB/T 43749-2024 微束分析 電子探針顯微分析 無水碳酸鹽礦物的定量分析方法
  • GB/T 42659-2023 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微術(shù) 采用掃描探針顯微鏡測定幾何量:測量系統(tǒng)校準(zhǔn)
  • GB/T 20726-2015 微束分析 電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數(shù)及核查方法
  • GB/T 29190-2012 掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法

美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì),關(guān)于電子 顯微 探針的標(biāo)準(zhǔn)

  • ASTM STP 317-1962 電子金相學(xué)和電子探針顯微分析進(jìn)展研討會(huì)

國家計(jì)量技術(shù)規(guī)范,關(guān)于電子 顯微 探針的標(biāo)準(zhǔn)

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織,關(guān)于電子 顯微 探針的標(biāo)準(zhǔn)

  • ISO/WD TR 23683:2023 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 使用電掃描探針顯微鏡對(duì)半導(dǎo)體器件中載流子濃度進(jìn)行實(shí)驗(yàn)量化的指南
  • ISO 19463:2018 微光束分析.電子探針顯微分析儀(EPMA).執(zhí)行質(zhì)量保證程序的指南
  • ISO 23833:2013 微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯
  • ISO 23833:2006 微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯
  • ISO 16592:2006 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線法測定鋼的碳含量的指南
  • ISO 16592:2012 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線法測定鋼的碳含量的指南
  • ISO 23729:2022 表面化學(xué)分析.原子力顯微鏡.有限探針尺寸放大原子力顯微鏡圖像的恢復(fù)程序指南
  • ISO 23692:2021 微束分析.電子探針顯微分析.連續(xù)鑄鋼產(chǎn)品中Mn樹枝狀偏析的定量分析
  • ISO 17470:2004 微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法分析質(zhì)量點(diǎn)的指南

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育,關(guān)于電子 顯微 探針的標(biāo)準(zhǔn)

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì),關(guān)于電子 顯微 探針的標(biāo)準(zhǔn)

  • BS ISO 23833:2006 微束分析 電子探針微量分析(EPMA) 詞匯
  • BS ISO 16592:2012 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線法測定鋼碳含量的指南
  • 19/30394914 DC BS ISO 15632 微束分析 用于電子探針顯微鏡或電子探針微量分析儀(EPMA)的能量色散 X 射線光譜儀的規(guī)格和檢查的選定儀器性能參數(shù)
  • BS ISO 23833:2013 微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯
  • BS ISO 23729:2022 表面化學(xué)分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴(kuò)張的原子力顯微鏡圖像恢復(fù)程序指南
  • BS ISO 11938:2013 微束分析.電子探針顯微分析.使用波長色散光譜對(duì)元素映射的分析方法

海灣阿拉伯國家合作委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)組織,關(guān)于電子 顯微 探針的標(biāo)準(zhǔn)

巴林國家計(jì)量局,關(guān)于電子 顯微 探針的標(biāo)準(zhǔn)

阿曼規(guī)格和計(jì)量局,關(guān)于電子 顯微 探針的標(biāo)準(zhǔn)

德國機(jī)械工程師協(xié)會(huì),關(guān)于電子 顯微 探針的標(biāo)準(zhǔn)

法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì),關(guān)于電子 顯微 探針的標(biāo)準(zhǔn)

  • NF X21-009:2008 微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯
  • NF X21-007:2008 微光束分析.電子探針顯微分析.用校準(zhǔn)曲線法測定鋼中碳含量的指南
  • NF X21-003:2006 微光束分析.電子探針顯微分析.波長分布X射線光譜測量法定量分析指南

瑞典標(biāo)準(zhǔn)研究所,關(guān)于電子 顯微 探針的標(biāo)準(zhǔn)

  • ASTM E1813-07 掃描探針顯微鏡中探針尖端形狀的測量和報(bào)告標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范

CZ-CSN,關(guān)于電子 顯微 探針的標(biāo)準(zhǔn)

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì),關(guān)于電子 顯微 探針的標(biāo)準(zhǔn)

  • JIS K 0189:2013 微束分析.電子探針顯微分析.波長色散X射線光譜學(xué)用實(shí)驗(yàn)參數(shù)的測定

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可能用到的儀器設(shè)備

 

電子探針EPMA-1720系列

電子探針EPMA-1720系列

島津企業(yè)管理(中國)有限公司

 

EPMA-8050G電子探針顯微分析儀

EPMA-8050G電子探針顯微分析儀

島津企業(yè)管理(中國)有限公司

 

 島津場發(fā)射電子探針EPMA-8050G

島津場發(fā)射電子探針EPMA-8050G

島津企業(yè)管理(中國)有限公司

 

JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀

JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀

日本電子株式會(huì)社(JEOL)

 

JXA-iSP200電子探針顯微分析儀

JXA-iSP200電子探針顯微分析儀

日本電子株式會(huì)社(JEOL)

 

 




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